陶瓷電容元件運用IM758X系列測量

陶瓷式電容器是電子製造業中常用的基本元件,應用於各種電子電路中以提供穩定的電容和濾波功能。準確測量這些元件的阻抗特性對於保證其性能和可靠性至關重要。讓我們來探討如何使用HIOKI IM758X系列阻抗分析儀進行高精度的陶瓷電容測量,以及這些數據如何幫助提升產品質量。

LCR阻抗分析儀 下圖產品型號:IM7587為例

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★HIOKI LCR阻抗分析儀 IM758X系列介紹 ★

HIOKI IM758X系列包含五個型號是款高性能的阻抗分析儀,適用於從1 MHz到3 GHz的頻率範圍。這使其成為測量高頻電子元件,如陶瓷電容器的理想選擇。具有自動範圍選擇、多種測試信號級別和複雜的數據分析功能,IM758X系列能夠提供詳細和準確的測量結果。



A 準備測量:在開始使用IM7585測量陶瓷電容前,需要確保所有設備已經校準並準備就緒。此外,確保使用適當的測試夾具和連接線,以減少測量誤差。
a.1 設備校準:根據用戶手冊進行完整的設備校準,以確保測量精度。
a.2 樣品準備:選取代表性的陶瓷電容樣品進行測量。
a.3 連接設置:使用適當的夾具和高質量的連接線將電容器連接到IM758X系列儀器。



B 測量過程:使用IM7585進行測量的基本步驟如下
b.1 設定測試條件:在IM7585上設定合適的測試頻率範圍和信號級別。
b.2 進行測量:啟動測量,IM7585將自動記錄電容的阻抗特性。
b.3 數據記錄:測量完成後,將數據存儲或導出到電腦進行進一步分析。


C 數據分析:測量得到的數據可以用於分析電容器的性能,包括但不限於下列
c.1 阻抗與頻率的關係:分析電容器在不同頻率下的阻抗變化。
c.2 品質因數(Q):評估電容器的效率和性能。
c.3 等效串聯電阻(ESR):重要指標之一,用於評估電容器在高頻應用中的能量損耗。

通過實際案例研究,本文展示了如何使用IM7585分析一款常用的陶瓷電容器。測量結果顯示,該電容器在特定頻率範圍內表現出較高的Q值,但在高頻處其ESR值增加,提示了其潛在的性能限制。


HIOKI新增同時繪製多個阻抗數據Cole-Cole和波特圖,上傳CSV檔即可獲得結果,如頻率、阻抗實部和阻抗虛部的列名應包括分別是「頻率(Hz)」、“ R” 和「X」。

HIOKI IM758X系列包含五個型號阻抗分析儀是一個強大的工具,用於測量和分析陶瓷電容器的性能。通過精確測量這些電容器的阻抗特性,製造商可以優化產品設計,提高電子裝置的可靠性和效率。隨著技術的進步,對於更高性能的測量設備的需求將持續增長,IM758X系列包含五個型號提供的高級功能和精確數據是滿足這一需求的關鍵。


★ HIOKI LCR阻抗分析儀 IM7585


2024-04-22