阻抗分析儀(LCR)
Hioki 阻抗分析儀 (LCR) — 精確解析電子元件特性
全面阻抗分析： Hioki 阻抗分析儀提供全面的電子元件阻抗分析，包括電感（L）、電容（C）、電阻（R）等參數，幫助工程師深入瞭解元件性能。
高頻率範圍： 部分型號支援廣泛的頻率範圍，使其適用於不同頻率下的測試，從而適應各種應用場景。
精確測量： Hioki 的阻抗分析儀具有高精度的測量能力，確保提供準確可靠的測試結果。
自動化測試： 部分型號具備自動化測試功能，能夠提高測試效率，減少人為操作的影響。
數據分析與記錄： 具有數據分析和記錄功能，可將測試數據存儲和分析，為工程師提供更全面的評估。
應用廣泛： 適用於電子元件測試、電路設計、生產線測試等多種應用場景，滿足工程師對元件特性詳盡了解的需求。
Hioki 阻抗分析儀具有高度的專業性，能夠深入解析電子元件的特性，為工程師提供了一個全面而可靠的測試工具。
全面阻抗分析： Hioki 阻抗分析儀提供全面的電子元件阻抗分析，包括電感（L）、電容（C）、電阻（R）等參數，幫助工程師深入瞭解元件性能。
高頻率範圍： 部分型號支援廣泛的頻率範圍，使其適用於不同頻率下的測試，從而適應各種應用場景。
精確測量： Hioki 的阻抗分析儀具有高精度的測量能力，確保提供準確可靠的測試結果。
自動化測試： 部分型號具備自動化測試功能，能夠提高測試效率，減少人為操作的影響。
數據分析與記錄： 具有數據分析和記錄功能，可將測試數據存儲和分析，為工程師提供更全面的評估。
應用廣泛： 適用於電子元件測試、電路設計、生產線測試等多種應用場景，滿足工程師對元件特性詳盡了解的需求。
Hioki 阻抗分析儀具有高度的專業性，能夠深入解析電子元件的特性，為工程師提供了一個全面而可靠的測試工具。
HIOKI IM3523A 阻抗分析儀 (LCR)
● ±0.05%的基本精度和廣泛的測量條件（可設置DC和40Hz至200kHz、5mV至5V、10μA至50mA）
●連續進行CD（120Hz）和ESR（100kHz）等不同測量時，整體測量速度提高到約1/10（與傳統型號3532-50相比）
● 配備比較器和BIN測量（分類功能）
● 測量時間為2msec的高速測量
●連續進行CD（120Hz）和ESR（100kHz）等不同測量時，整體測量速度提高到約1/10（與傳統型號3532-50相比）
● 配備比較器和BIN測量（分類功能）
● 測量時間為2msec的高速測量
HIOKI IM3536 阻抗分析儀 (LCR)
新標準通用LCR meter，DC從4Hz至8MHz的測量頻率範圍。
●測量頻率DC，4Hz~8MHz
●測量時間：最快1ms
●基本精度：±0.05% rdg
●1mΩ以上的精度保證範圍，也可安心進行低阻測量
●可內部發生DC偏壓測量
●從研發到生產線活躍在各種領域中
●測量頻率DC，4Hz~8MHz
●測量時間：最快1ms
●基本精度：±0.05% rdg
●1mΩ以上的精度保證範圍，也可安心進行低阻測量
●可內部發生DC偏壓測量
●從研發到生產線活躍在各種領域中
HIOKI IM3533 阻抗分析儀 (LCR)
●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。
●在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度是我司以往產品的10倍。
●內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯電阻。
●(測量速度是以往產品3522-50的10倍，大大提高了反復性和穩定性)
●專用模式，用於測量變壓器線圈比率，互感係數和溫度補償DCR。
●頻率掃描測試(僅IM3533-01)
●除標準0m/1m以外的2m/4m電纜設置。
●內置比較器和BIN功能。
●2ms的快速測試時間
●在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度是我司以往產品的10倍。
●內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯電阻。
●(測量速度是以往產品3522-50的10倍，大大提高了反復性和穩定性)
●專用模式，用於測量變壓器線圈比率，互感係數和溫度補償DCR。
●頻率掃描測試(僅IM3533-01)
●除標準0m/1m以外的2m/4m電纜設置。
●內置比較器和BIN功能。
●2ms的快速測試時間
漿料分析系統：漿料解析軟體 SA2634
定量評價LIB電極漿料的電子傳導性
利用指定機種進行LiB電極漿料的阻抗測量
無須設定等效迴路與初期值設定的自動解析功能
利用「DCR」「Rratio」「Uniformity」進行電子傳導性的數值評價
利用指定機種進行LiB電極漿料的阻抗測量
無須設定等效迴路與初期值設定的自動解析功能
利用「DCR」「Rratio」「Uniformity」進行電子傳導性的數值評價
HIOKI IM3523 阻抗分析儀 (LCR) (已停產， 替代機型IM3523A)
40Hz ~ 200kHz
●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
●在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
●內置比較器和BIN功能
●2ms的快速測試時間
●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
●在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
●內置比較器和BIN功能
●2ms的快速測試時間
HIOKI IM3570 阻抗分析儀
共振點分析
●一台儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
●LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
●基本精度±0.08%的高精度測量
●適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
●分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
●可以用於無線充電評價系統TS2400
●一台儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
●LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
●基本精度±0.08%的高精度測量
●適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
●分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
●可以用於無線充電評價系統TS2400
HIOKI IM7583 阻抗分析儀
• 1 MHz to 600 MHz testing source frequency
• Fastest test speed of 0.5 msec (Analog measurement time)
• ±0.65% rdg. basic accuracy
●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
●內置比較器和BIN功能
●2ms的快速測試時間
• Fastest test speed of 0.5 msec (Analog measurement time)
• ±0.65% rdg. basic accuracy
●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
●內置比較器和BIN功能
●2ms的快速測試時間
HIOKI IM3590 電化學分析儀
寬頻帶 1mHz ~ 200kHz
●適用於離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬範圍信號源
●一台機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查
●可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻
●最快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化
●基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發測量均可對應
●適用於Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量
●適用於離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬範圍信號源
●一台機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查
●可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻
●最快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化
●基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發測量均可對應
●適用於Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量
HIOKI IM9202 多合一測試夾具
多合一測試夾具，用於各種組件的高頻600 MHz測試
●IM7580系列專用SMD測試夾具
●測試頻率600MHz
●適用於各種形狀和尺寸的元件，可進行高頻阻抗測量
●可測元件尺寸：帶引腳的元件、SMD（貼片元件）
●IM9202無法單獨使用。請與IM9906、IM9200搭配進行使用。
●IM7580系列專用SMD測試夾具
●測試頻率600MHz
●適用於各種形狀和尺寸的元件，可進行高頻阻抗測量
●可測元件尺寸：帶引腳的元件、SMD（貼片元件）
●IM9202無法單獨使用。請與IM9906、IM9200搭配進行使用。
HIOKI IM9201 SMD測試夾具
●IM7580系列專用SMD測試治具
●2種設備指南，可對應6種尺寸的SMD
●對應SMD尺寸※1 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225
※1：JIS單位mm，相當於EIA0201～EIA1210尺寸
●2種設備指南，可對應6種尺寸的SMD
●對應SMD尺寸※1 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225
※1：JIS單位mm，相當於EIA0201～EIA1210尺寸
HIOKI IM7585 阻抗分析儀
1 MHz到1.3GHz的頻率測量的阻抗分析儀
●測量頻率：1MHz~1.3GHz
●測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
●測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）
●基本精度：±0.65% rdg.
●測量方式 : RF I-V法
●緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小
●豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
●測量頻率：1MHz~1.3GHz
●測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
●測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）
●基本精度：±0.65% rdg.
●測量方式 : RF I-V法
●緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小
●豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
HIOKI IM7580A 阻抗分析儀
元件測量儀器(電感、電容、電阻測量)
●測量頻率1MHz~300MHz
●測量時間：最快0.5ms
●基本精度±0.72%rdg.
●測量方式 : RF I-V法
●小巧主機，僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
●豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
●測量頻率1MHz~300MHz
●測量時間：最快0.5ms
●基本精度±0.72%rdg.
●測量方式 : RF I-V法
●小巧主機，僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
●豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量