阻抗分析儀(LCR)
HIOKI IM3533 阻抗分析儀 (LCR)
●基本精度±0.05%,測量範圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。
●在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,不間斷測試,速度是我司以往產品的10倍。
●內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯電阻。
●(測量速度是以往產品3522-50的10倍,大大提高了反復性和穩定性)
●專用模式,用於測量變壓器線圈比率,互感係數和溫度補償DCR。
●頻率掃描測試(僅IM3533-01)
●除標準0m/1m以外的2m/4m電纜設置。
●內置比較器和BIN功能。
●2ms的快速測試時間
●在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,不間斷測試,速度是我司以往產品的10倍。
●內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯電阻。
●(測量速度是以往產品3522-50的10倍,大大提高了反復性和穩定性)
●專用模式,用於測量變壓器線圈比率,互感係數和溫度補償DCR。
●頻率掃描測試(僅IM3533-01)
●除標準0m/1m以外的2m/4m電纜設置。
●內置比較器和BIN功能。
●2ms的快速測試時間
HIOKI IM7581 阻抗分析儀
●測量頻率1MHz~300MHz
●測量時間:最快0.5ms
●基本精度±0.72%rdg.
●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
●測量時間:最快0.5ms
●基本精度±0.72%rdg.
●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
HIOKI IM7583 阻抗分析儀
• 1 MHz to 600 MHz testing source frequency
• Fastest test speed of 0.5 msec (Analog measurement time)
• ±0.65% rdg. basic accuracy
• Fastest test speed of 0.5 msec (Analog measurement time)
• ±0.65% rdg. basic accuracy