IM3590化學阻抗分析儀除了可以對應一般電子元件的LCR量測功能之外，還可用於等效迴路分析、電化學分析及繪製cole cole plot 圖等電池相關量測使用。有關EIS的繪製我們在之前的文章中分享其中的原理。

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在進行圖形繪製時，另一個重要地方就是進行掃描參數的設定。在IM3590主機內可以針對五個參數進行掃描，分別是:頻率(FREQ)掃描、開路電壓(V)掃描、恆電壓掃描(CV)、恆電流(CC)掃描及DC偏壓(DC BIAS)掃描。

而掃描點數的部分，主機內部最多可以支援801個點數，若有更多掃描點數的需求則可以把主機接到電腦透過HIOKI提供的免費軟體進行外部掃描。透過外部掃頻則最多可以支援5000個掃描點。掃描功能的選項中則有四種不同的掃描範圍START-STOP, START-STEP, CENTER SPAN及INTVL MEAS，設定方式如下。

根據需求完成以上設定之後則可以針對參數進行掃頻及圖形的繪製 !