唐和儀器於 R7618 攤位參展，展示針對半導體產線的精密測量、檢測與控制解決方案。本次展會聚焦全球半導體製造、封測及先進電子產業的核心技術與應用，強調製程精度、產品品質與生產穩定性，全面呈現先進測量與檢測技術在半導體產線的價值。

展會期間，唐和儀器展示整合多個國際領先品牌的技術與解決方案，涵蓋精密量測、溫控管理、品質檢測及自動化控制，支援從研發到量產各階段的精準製程。參展品牌包括 HIOKI、FLIR、SENSECA、METTLER TOLEDO、Rohde & Schwarz、FLUKE、OPTRIS 以及 RKC，共同展現業界領先技術，提供半導體產線完整的測試、檢測與控制支持。

此次展出讓業界專業人士得以深入了解唐和儀器在半導體產線中的應用實例，包括如何透過高精度測量設備提升製程效率、確保產品一致性、降低生產風險並增強整體製程可靠性。同時展示了唐和儀器在整合多品牌技術方案上的能力，以及在半導體產業中提供定制化解決方案的專業實力。

唐和儀器將持續聚焦半導體產業的技術創新與解決方案開發，協助客戶實現高精度、高穩定性與高可靠性的製程目標，並致力於引領半導體測量與檢測領域的技術發展。