Anritsu MS2070A for EMI

電磁干擾(EMI:Electromagnetic Interference

是指在電子設備或系統之間,或者在設備和周圍環境之間,發生的電磁能量相互干擾的現象。

電磁干擾可以是由各種原因引起的,包括電源供應、信號傳輸、射頻輻射、接地問題、電線布線不當等。當電子設備產生電磁干擾,這些干擾信號可以傳播到其他設備或系統中,引起不正常的操作、故障、異常性能或資料損失。

EMI對於電子設備和系統的正常運作和可靠性至關重要。它可能導致通信失效、影響數據傳輸品質、干擾無線電接收器、破壞敏感設備、干擾醫療設備等。因此,減少和控制EMI對於確保電子設備和系統的正常運作、相容性和安全性至關重要。

為了減少EMI問題,設計和製造電子設備時需要採取EMI抑制措施,例如:合理的電路設計、屏蔽和接地技術、適當的濾波器和隔離設備。同時,也需要進行EMI測試和認證,確保設備符合相關的電磁相容性標準,並能在各種電磁環境中正常運作而不干擾其他設備。

Anritsu MS2070A/MS2080A搭配EMI Probe,可以支援以下類型測試:

1. 射頻干擾Radio Frequency InterferenceRFI):測量在無線通信頻率範圍內的射頻信號干擾,它可能是由其他無線通信設備、雷電放電、強電線路或其他射頻源引起的。射頻干擾可能導致通信品質下降、信號衰減、通信中斷或干擾其他無線設備。

2. 射頻輻射Radiated Emissions):電子設備在操作過程中產生的電磁能量以無線電波形式傳播出去。這些輻射信號可能超出了國際標準所允許的限制值,並對其他設備或無線通信系統造成干擾。

3. 導體干擾Conducted Emissions):導體干擾是指由電源線或連接線路傳播的電磁能量。當電子設備中的內部電路產生電磁能量並透過連接線傳播時,可能對其他設備或系統產生干擾。



2023-06-06