• HIOKI IM7585 阻抗分析儀

HIOKI IM7585 阻抗分析儀

1 MHz到1.3GHz的頻率測量的阻抗分析儀
型號 : HIOKI IM7585



  • 選件

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高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:最快0.5ms,測量值偏差0.07%

  • 測量頻率:1MHz~1.3GHz
  • 測量時間:最快0.5ms(模擬測量時間)
  • 測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值)
  • 基本精度:±0.65% rdg.
  • 緊湊主機僅機架一半大小,測試頭尺寸僅手掌大小
  • 豐富的接觸檢查(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
  • 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量


測量模式

LCR (LCR測試), 分析 (掃皮測量), 連續測量

測量參數

Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

精度保證範圍

100 mΩ〜5 kΩ

顯示範圍

Z: 0.00m9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m9.99999 GΩ)
Ls, Lp:
± (0.00000 n9.99999 GH) / Q: ± (0.009999.99)
θ: ± (0.000°〜180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p9.99999 GF)
D:
± (0.000009.99999), Y: (0.000 n9.99999 GS)
G, B:
± (0.000 n9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %999.999 %)

基本精度

Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°

測定頻率

1 MHz1.3 GHz (設定解析度100 kHz)

測量信號電頻

功率 (dBm)模式: -40.0 dBm +1.0 dBm
電壓 (V) 模式: 4 mV502 mVrms
電流 (I) 模式: 0.09 mA10.04 mArms

輸出阻抗

50 Ω (10 MHz)

顯示

彩色TFT 8.4 英吋觸控面板

測量時間

最快0.5 ms ( 模擬測量時間代表値)

功能

接觸檢查比較器, BIN判定 (分類機能), 面板讀取保存・ 儲存機能等效電路分析相關補償

接口

EXT I/O (處理器), USB通訊, LAN無線網路RS-232C (選購), GP-IB (選購)

電源

AC 100240 V, 50/60 Hz, 70 VA max

體積和重量

主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 
測試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g

附品

測試頭×1, 電源線 ×1, 說明書 ×1, CD-R (通信使用說明書) ×1, 電源線 ×1

■ 1MHz ~ 1.3GHz 測試源頻率。

■ 最快測試速度0.5msec (模擬測量時間)

■ 0.07%測量值變化(當測量1GHz)

■ ±0.65% rdg. 基本精度。

■ 輕巧,節省空間的測試投。

■ 全面接觸檢查(通過DCR檢測,高阻阻斷或波形判斷)

■ 在測量分析儀模式頻率掃描,水平掃描和時間間隔。


阻抗分析儀IM7580系列:使用SMD測試儀IM9201進行LCR測量

IM7580系列包含五個型號,涵蓋1 MHz至3 GHz的測量頻率。IM7580系列儀器與可容納六種SMD尺寸的測試儀IM9201結合使用,使您能夠輕鬆,可靠地測量樣品。



IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:對比功能

對比功能可讓您檢查測量值是否在用戶定義的判斷範圍內。此功能非常適合用於生成樣本的通過/失敗判斷。



IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:接觸檢查功能

儀器的接觸檢查功能使您可以檢查樣品和測量端子之間的接觸,以檢測接觸不良或確認接觸良好。



IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:如何連接測試頭

將測試頭的電纜連接到阻抗分析儀。擰緊螺母,直到扭矩扳手的手柄略微彎曲。不要過度擰緊。




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