HIOKI IM7585 阻抗分析儀
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選件
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選件
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高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:最快0.5ms,測量值偏差0.07%
- ●測量頻率:1MHz~1.3GHz
- ●測量時間:最快0.5ms(模擬測量時間)
- ●測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值)
- ●基本精度:±0.65% rdg.
- ●緊湊主機僅機架一半大小,測試頭尺寸僅手掌大小
- ●豐富的接觸檢查(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
- ●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
測量模式 |
LCR (LCR測試), 分析 (掃皮測量), 連續測量 |
測量參數 |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保證範圍 |
100 mΩ〜5 kΩ |
顯示範圍 |
Z: 0.00m〜9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m〜9.99999 GΩ) |
基本精度 |
Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
測定頻率 |
1 MHz〜1.3 GHz (設定解析度100 kHz) |
測量信號電頻 |
功率 (dBm)模式: -40.0 dBm〜 +1.0 dBm |
輸出阻抗 |
50 Ω (10 MHz時) |
顯示 |
彩色TFT 8.4 英吋, 觸控面板 |
測量時間 |
最快0.5 ms ( 快, 模擬測量時間, 代表値) |
功能 |
接觸檢查, 比較器, BIN判定 (分類機能), 面板讀取保存・ 儲存機能, 等效電路分析, 相關補償 |
接口 |
EXT I/O (處理器), USB通訊, LAN無線網路RS-232C (選購), GP-IB (選購) |
電源 |
AC 100〜240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
體積和重量 |
主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg |
附品 |
測試頭×1, 電源線 ×1, 說明書 ×1, CD-R (通信使用說明書) ×1, 電源線 ×1 |
■ 1MHz ~ 1.3GHz 測試源頻率。
■ 最快測試速度0.5msec (模擬測量時間) 。
■ 0.07%測量值變化(當測量1GHz時)。
■ ±0.65% rdg. 基本精度。
■ 輕巧,節省空間的測試投。
■ 全面接觸檢查(通過DCR檢測,高阻阻斷或波形判斷)。
■ 在測量分析儀模式頻率掃描,水平掃描和時間間隔。
阻抗分析儀IM7580系列:使用SMD測試儀IM9201進行LCR測量
IM7580系列包含五個型號,涵蓋1 MHz至3 GHz的測量頻率。IM7580系列儀器與可容納六種SMD尺寸的測試儀IM9201結合使用,使您能夠輕鬆,可靠地測量樣品。
IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:對比功能
對比功能可讓您檢查測量值是否在用戶定義的判斷範圍內。此功能非常適合用於生成樣本的通過/失敗判斷。
IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:接觸檢查功能
儀器的接觸檢查功能使您可以檢查樣品和測量端子之間的接觸,以檢測接觸不良或確認接觸良好。
IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:如何連接測試頭
將測試頭的電纜連接到阻抗分析儀。擰緊螺母,直到扭矩扳手的手柄略微彎曲。不要過度擰緊。