電池AC-IR 高低頻 & DC-IR 量測差異
電池 AC-IR(HIOKI BT系列) & DC-IR(充放電系統) 量測差異
迄今為止，電池單元的內部電阻測量(DC-IR測量)都是按照預備充電後大電流流過，測量下降電壓這樣的流程進行的。
但是，預備充電通暢需要花幾分鐘到幾十分鐘不等的時間。
HIOKI BT4560採用1Hz以下的低頻來對內部阻抗進行測量
(AC-IR測量)無需充放電，從而大幅縮短電池單元的測量時間。
以往的電池測試儀(BT356x系列)用1kHz的頻率測量，所以只能看到電池的電解液電阻，通過以1Hz左右的低頻來測量，可以看到電極介面的反應電阻。
迄今為止，電池單元的內部電阻測量(DC-IR測量)都是按照預備充電後大電流流過，測量下降電壓這樣的流程進行的。
但是，預備充電通暢需要花幾分鐘到幾十分鐘不等的時間。
HIOKI BT4560採用1Hz以下的低頻來對內部阻抗進行測量
(AC-IR測量)無需充放電，從而大幅縮短電池單元的測量時間。
以往的電池測試儀(BT356x系列)用1kHz的頻率測量，所以只能看到電池的電解液電阻，通過以1Hz左右的低頻來測量，可以看到電極介面的反應電阻。
BT4560通過高頻和低頻的2點間測量，在調查電解液電阻和反應電阻兩方面基礎上保證電池組的品質。有助於提升鋰電池模組的高品質和持久性。
2024-04-19