低阻計

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HIOKI RM3543 四線式低阻計

元器件測量 (用於測量低電阻)
用於測試超低或低並聯電阻的電阻計
●自動化系統中±0.16%的精度和0.01μΩ解析度
●反覆測量精度高
●提供高性能的接觸檢查功能,比較器功能和數據輸出功能
●直覺的用戶介面,強抗干擾性,最適用於自動一體化