• HIOKI IM3523A 阻抗分析儀 (LCR)

HIOKI IM3523A 阻抗分析儀 (LCR)

● ±0.05%的基本精度和廣泛的測量條件(可設置DC和40Hz至200kHz、5mV至5V、10μA至50mA)
●連續進行CD(120Hz)和ESR(100kHz)等不同測量時,整體測量速度提高到約1/10(與傳統型號3532-50相比)
● 配備比較器和BIN測量(分類功能)
● 測量時間為2msec的高速測量
型號 : HIOKI IM3523A


IM3523A 測量方式:不同條件下連續測量

電容器測量條件下以 120Hz 測量 CD。測量 100kHz 的 ESR。單個單元可以高速連續測量不同的條件。




IM3523A 測量方法:生產線設置的平滑變化,面板負載功能

需要有效的設置更改才能使用單個 LCR 儀表處理多種產品。 IM3523A的面板保存功能最多可保存60個測量條件和128個開路/短路校正、電纜長度校正等校正值。可以加載使用面板加載功能保存的測量條件。



可靠的生產線檢查:接觸檢查功能

在 4 端子測量期間檢測樣品之間的接觸不良 測量LPOT與LCUR、HPOT與HCUR之間的接觸電阻,超過設定閾值則顯示錯誤。

規格


基本規格(精度保證1年) 

測量模式 LCR(單一條件測量)、連續測量(保存條件的連續測量)
測量參數 Z、Y、θ、X、G、B、Q、Rdc(直流電阻)、Rs(ESR)、Rp、Ls、Lp、Cs、Cp、D(tanδ)
測量範圍 100 mΩ 至 100 MΩ,10 個量程(所有參數均在 Z 中指定)
顯示範圍 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:
±(0.00000[單位]至9.99999G[單位])只有Z和Y是絕對值
θ:±( 0.000°~180.000°),D:±(0.00000~9.99999)
Q:±(0.00~99999.9),Δ%:±(0.0000%~999.999%)
基本精度 Z:±0.05% rdg.θ:±0.03°
測量頻率 40 Hz 至 200 kHz(5 位設置分辨率)
測量信號電平 V 模式、CV 模式:5 mV 至 5 Vrms,步長為 1 mVrms
CC 模式:10 μA 至 50 mArms,步長為 10 μArms
輸出阻抗 100Ω
展示 單色液晶顯示器
測量時間 2 毫秒(1 kHz,快速,典型)
功能 比較器、BIN 測量(分類功能)、面板加載/保存、記憶功能
界面 EXT I/O(處理程序)、USB 通信、LAN
電源 交流 100-240V,50/60Hz,最大 50VA
尺寸/質量 260W × 88H × 203D mm, 2.1kg
配件 電源線 x 1、啟動指南 x 1、注意事項 x 1、LCR 應用盤 x 1

主要特徵

  • ±0.05% 精度,測量範圍廣(DC,40Hz 至 200kHz,5mV 至 5V,10uA 至 50mA)
  • 快速 2 毫秒測試時間
  • 內置比較器和 BIN 功能
  • 在 CD(120 Hz) 和 ESR(100 kHz) 等混合測量條件下以以前型號速度的 10 倍進行不間斷測試(與 3532-50 型相比)

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