HIOKI 3504 電容測試器

測量參數

Cs,Cp（電容）,D（損耗係數tanδ)

測量範圍

C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000

基本精度

（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016<

測量頻率

120Hz, 1kHz

測量信號電壓

定電壓模式: 100mV (僅限3504-60)，500 mV, 1 V

測量範圍:
CV 100mV:～170μF 檔位(測量頻率1kHz), ～1.45mF 檔位(測量頻率120Hz)
CV 500mV: ～170μF 檔位 (測量頻率1kHz), ～1.45mF 檔位(測量頻率120Hz)
CV 1V: ～70μF 檔位 (測量頻率1kHz), ～700μF 檔位 (測量頻率120Hz)

輸出阻抗

5Ω（再定電壓CV測量範圍以外的開路端子電壓模式時)

顯示

LED （6位表示）

測量時間

2.0 ms （1 kHz, FAST）
※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同

功能

BIN分料測量(3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動功能, 控制用輸出輸入(EXT. I/O), RS-232C介面（標配), GP-IB介面(3504-40除外)

電源

AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA

體積及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

配件

電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1