HIOKI IM3570 阻抗分析儀
用於線圈、電容、壓電元件等電子零部件生產線上的檢查，另外還適用於大學和企業研究部門的開發方面。
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測量模式 |
LCR模式：單一條件下測量 掃頻模式：根據測量頻率、測量電平進行掃描 (測量點：1~801，掃描方法：一般掃描/分區掃描，顯示：列表顯示/圖表顯示) 連續測量模式：連續測量保存的條件(最多32個) |
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測量參數 |
Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
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測量檔位 |
100mΩ~100MΩ，12檔量程(所有參數都根據Z來確定) |
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基本精度 |
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
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測量頻率 |
4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進) |
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測量信號電頻 |
普通模式：
低阻抗高精度模式： |
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測頭阻抗 |
普通模式：100Ω 低阻抗高精度模式：10Ω |
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顯示 |
彩色TFT5.7英寸，可設置顯示開或關 |
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顯示位元數設置 |
可設置3~7位元的顯示位元數，初始值爲6位 |
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測量時間 |
0.5ms(100kHz、FAST、顯示關，代表值) |
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測量速度 |
FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
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DC偏壓測量 |
普通模式：DC0V~2.50V(10mV步進) 低阻抗高精度模式：DC0V~1.00V(10mV步進) |
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直流電阻測量 |
普通模式：測量信號電平
低阻抗高精度模式：測量信號電平 |
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比較器 |
LCR模式：第1、第3專案的Hi/IN/Lo 分析模式：區域判斷(各點的Hi/IN/Lo)、峰值判斷(極大、極小的頻率和絕對值的Hi/IN/Lo) |
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存儲功能 |
主機可保存32000個資料 |
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介面 |
EXT I/O(處理器)/RS232C/ GP-IB/USB(Hi-Speed/Full-Speed) /LAN(10BASE-T/100BASE-TX) |
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電源 |
AC90~264V，50/60Hz，最大150VA |
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體積和質量 |
330W×119H×307Dmm，5.8kg |
■ 可在不同測量條件下進行高速連續測量，1台儀器即可滿足所有要求。
■ 檢查速度提高了2倍(跟以往型號3532-50相比)，大大縮短了測量時間。
■ 測量的精度比以往機型提高了1位(※1mΩ，100次測量時)，因此爲用戶提供穩定測量。
■ 廣範圍的測量頻率，可在DC和4Hz～5Hz的範圍內設置5位解析度的頻帶(1kHz以下爲0.01Hz解析度)。
■ 具備防止誤操作的接觸檢查功能，防止在測量電極不接觸被測物的狀態下測量的情況，因此可以避免出現未檢查的産品出廠。
■ 廣範圍的測量電壓/電流，可設置廣範圍的5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的測量信號電平。
■ 測試線可延長至4m，仍可保證精度，便於自動設備的配線。
