• HIOKI IM3570 阻抗分析儀

HIOKI IM3570 阻抗分析儀

共振點分析
型號 : HIOKI IM3570

用於線圈、電容、壓電元件等電子零部件生產線上的檢查,另外還適用於大學和企業研究部門的開發方面。

測量模式

LCR模式:單一條件下測量

掃頻模式:根據測量頻率、測量電平進行掃描

(測量點:1~801,掃描方法:一般掃描/分區掃描,顯示:列表顯示/圖表顯示)

連續測量模式:連續測量保存的條件(最多32

測量參數

ZY、θ、Rs(ESR)RpRdc(直流電阻)XGBCsCpLsLpD(tanδ)Q

測量檔位

100mΩ~100MΩ,12檔量程(所有參數都根據Z來確定)

基本精度

Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° 

測量頻率

4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進)

測量信號電頻 

普通模式:
V
模式、CV模式:5mV~5Vrms(1MHz以下)10mV~1Vrms(1MHz~5MHz)1mVrms步進
CC
模式:
10
μA~50mArms(1MHz以下)    
10
μA~10mArms(1MHz~5MHz)10μArms步進

低阻抗高精度模式:
V
模式、CV模式:5mV~1Vrms(100kHz以下)
1mVrms
步進 
CC
模式:10μA~100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程), 10μArms步進

測頭阻抗

普通模式:100Ω

低阻抗高精度模式:10Ω

顯示 

彩色TFT5.7英寸,可設置顯示開或關   

顯示位元數設置

可設置3~7位元的顯示位元數,初始值爲6

測量時間 

0.5ms(100kHzFAST、顯示關,代表值)   

測量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

DC偏壓測量

普通模式:DC0V~2.50V(10mV步進)    

低阻抗高精度模式:DC0V~1.00V(10mV步進)    

直流電阻測量

普通模式:測量信號電平
DC100mV~2.5V(10mV
步進)

低阻抗高精度模式:測量信號電平
DC100mV~1.00V(10mV
步進

比較器

LCR模式:第1、第3專案的Hi/IN/Lo   

分析模式:區域判斷(各點的Hi/IN/Lo)、峰值判斷(極大、極小的頻率和絕對值的Hi/IN/Lo)

存儲功能

主機可保存32000個資料

介面

EXT I/O(處理器)/RS232C/ GP-IB/USB(Hi-Speed/Full-Speed) /LAN(10BASE-T/100BASE-TX) 

電源

AC90~264V50/60Hz,最大150VA

體積和質量

330W×119H×307Dmm5.8kg   

■ 可在不同測量條件下進行高速連續測量,1台儀器即可滿足所有要求。

■ 檢查速度提高了2(跟以往型號3532-50相比),大大縮短了測量時間。

■ 測量的精度比以往機型提高了1(1mΩ,100次測量時),因此爲用戶提供穩定測量。

■ 廣範圍的測量頻率,可在DC4Hz5Hz的範圍內設置5位解析度的頻帶(1kHz以下爲0.01Hz解析度)

■ 具備防止誤操作的接觸檢查功能,防止在測量電極不接觸被測物的狀態下測量的情況,因此可以避免出現未檢查的産品出廠。

■ 廣範圍的測量電壓/電流,可設置廣範圍的5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的測量信號電平。

■ 測試線可延長至4m,仍可保證精度,便於自動設備的配線。

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