HIOKI IM7587 阻抗分析儀
測量模式 |
LCR 模式, 分析儀模式, (掃描具有測量頻率和測量電平), 連續測量模式 |
測量參數 |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
可測量範圍 |
100 mΩ ~ 5 kΩ |
顯示範圍 |
Z: 0.00 m ~ 9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m
~ 9.99999 GΩ) |
基本精度 |
Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
測量頻率 |
1 MHz ~ 3 GHz (100 kHz 設定分辨率) |
測量訊號電平 |
功率: -40.0 dBm ~ +1.0 dBm |
輸出阻抗 |
50 Ω (at 10 MHz) |
顯示 |
8.4-inch color TFT ,觸控螢幕 |
測量速率 |
FAST: 0.5 ms (模擬測量時間,典型值) |
功能 |
接觸檢查, 比較器, BIN 測量(分類), 面板加載/儲存, 記憶體功能, 等效電路分析, 相關補償 |
介面 |
EXT I/O (處理程序), USB 通訊, USB 記憶體, LAN, RS-232C (選配), GP-IB (選配) |
電源供應 |
100 ~ 240 V AC, 50/60 Hz, 70 VA max. |
體積與重量 |
主機: 215 mm (8.46 in) W × 200 mm (7.87 in) H × 348 mm (13.70 in) D, 8.0 kg (282.2 oz) |
配件 |
測試頭×1, 連接線×1, 操作說明書×1, LCR 應用光碟(通訊使用手冊) ×1, 電源線×1 |
■ 1 MHz至3 GHz測試源頻率
■ 最快測試速度為0.5 msec(模擬測量時間)
■ 0.07%測量值波動(在1GHz測量時)
■ ±0.65%rdg 基本精度
■ 輕巧,節省空間的測試頭
■ 全面的接觸檢查(通過DCR測試,高阻拒絕或波形判斷)
■ 在分析儀模式下進行頻率掃描,電平掃描和時間間隔測量