HIOKI IM7581 阻抗分析儀
●測量時間：最快0.5ms
●基本精度±0.72%rdg.
●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
●豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
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選件
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選件
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最快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻
- ●測量頻率1MHz~300MHz
- ●測量時間：最快0.5ms
- ●基本精度±0.72%rdg.
- ●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
- ●豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- ●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
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測量模式 |
LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量 |
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測量參數 |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
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測量範圍 |
100 mΩ ~ 5 kΩ |
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顯示範圍 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
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基本精度 |
Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
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測量頻率 |
100.00kHz~300.00 MHz |
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測量訊號水平 |
功率(dbm) 模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm |
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輸出阻抗 |
50 Ω (10 MHz時) |
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顯示 |
彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
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測量速度 |
最快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值） |
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功能 |
接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、儲存功能、等效電路分析、相關補償 |
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介面 |
EXT I/O (Handler), USB communication, USB memory, LAN, RS-232C (optional), GP-IB (optional) |
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電源供應 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
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體積及重量 |
主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg |
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配件 |
電源線×1, 測試頭×1, 連接線×1, 使用說明書×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1 |
■ 測量頻率1MHz - 300MHz
■ 基本精度±0.72%rdg.
■ 測量時間: 最快0.5ms
■ 測量頭僅手掌大小
■ 接觸檢查功能(DCR功能、Hi-Z篩選、波形判定)
■ 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
阻抗分析儀IM7580系列：使用SMD測試儀IM9201進行LCR測量
IM7580系列包含五個型號，涵蓋1 MHz至3 GHz的測量頻率。IM7580系列儀器與可容納六種SMD尺寸的測試儀IM9201結合使用，使您能夠輕鬆，可靠地測量樣品。
IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列：對比功能
對比功能可讓您檢查測量值是否在用戶定義的判斷範圍內。此功能非常適合用於生成樣本的通過/失敗判斷。
IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列：接觸檢查功能
儀器的接觸檢查功能使您可以檢查樣品和測量端子之間的接觸，以檢測接觸不良或確認接觸良好。
IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列：如何連接測試頭
將測試頭的電纜連接到阻抗分析儀。擰緊螺母，直到扭矩扳手的手柄略微彎曲。不要過度擰緊。
