• HIOKI IM7581 阻抗分析儀

HIOKI IM7581 阻抗分析儀

●測量頻率1MHz~300MHz
●測量時間:最快0.5ms
●基本精度±0.72%rdg.
●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
型號 : HIOKI IM7581

  • 選件

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最快0.5ms,覆蓋100kHz~300MHz的低頻

  • 測量頻率1MHz~300MHz
  • 測量時間:最快0.5ms
  • 基本精度±0.72%rdg.
  • 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
  • 豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
  • 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

測量模式

LCRLCR測量),分析(掃頻測量),連續測量

測量參數

Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

測量範圍

100 mΩ ~ 5 kΩ

顯示範圍

Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp:
± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D:
± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B:
± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)

基本精度

Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°

測量頻率

100.00kHz~300.00 MHz

測量訊號水平

功率(dbm) 模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 
電壓(V)模式: 4 mV~1001 mVrms 
電流( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms

輸出阻抗

50 Ω (10 MHz)

顯示

彩色TFT8.4英寸、觸屏

測量速度

最快0.5msFAST、模擬測量時間、代表值)

功能

接觸檢查、比較器、BIN判定(分類功能)、面板讀取·保存、儲存功能、等效電路分析、相關補償

介面

EXT I/O (Handler), USB communication, USB memory, LAN, RS-232C (optional), GP-IB (optional)

電源供應

AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max

體積及重量

主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 
測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g

配件

電源線×1, 測試頭×1, 連接線×1, 使用說明書×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1

■ 測量頻率1MHz - 300MHz

■ 基本精度±0.72%rdg.

■ 測量時間: 最快0.5ms

■ 測量頭僅手掌大小

■ 接觸檢查功能(DCR功能、Hi-Z篩選、波形判定)

■ 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

阻抗分析儀IM7580系列:使用SMD測試儀IM9201進行LCR測量

IM7580系列包含五個型號,涵蓋1 MHz至3 GHz的測量頻率。IM7580系列儀器與可容納六種SMD尺寸的測試儀IM9201結合使用,使您能夠輕鬆,可靠地測量樣品。

IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:對比功能

對比功能可讓您檢查測量值是否在用戶定義的判斷範圍內。此功能非常適合用於生成樣本的通過/失敗判斷。

IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:接觸檢查功能

儀器的接觸檢查功能使您可以檢查樣品和測量端子之間的接觸,以檢測接觸不良或確認接觸良好。

IMPEDANCE ANALYZER IM7580系列:如何連接測試頭

將測試頭的電纜連接到阻抗分析儀。擰緊螺母,直到扭矩扳手的手柄略微彎曲。不要過度擰緊。


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