• HIOKI 3506-10 高速電容測試器

HIOKI 3506-10 高速電容測試器

1kHz、1MHz,MLCC測試器
型號 : HIOKI 3506-10

產線最適合的產品,可對應1MHz測試,低容量,高精度,高速測試

測量參數

C(電容),D(損耗系数tanδ), Q (1/tan δ)

測量範圍

C:0.001fF15.0000μF

D: 0.00001 1.99999

Q:0.0 19999.9

基本精度

(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013

測量頻率

1kHz, 1MHz

測量信號電壓

500mV, 1V rms

輸出阻抗

1Ω (1kHz 2.2 μF 以上檔位), 20Ω(除上述以外的檔位)

顯示

LED(6位顯示)

測量時間

1.5ms1MHz2.0 ms1kHz

功能

BIN分料測量,觸發同步輸出,記憶測量條件,測量值比較功能,平均值功能,Low-C拒絕功能,震動功能,電流檢測監視功能,輸出電壓值監視功能,控制用輸入輸出(EXT,I/O),RS-232C接頭,GP-IB接頭

電源

AC 100/120/220/240V ±10%(可自調), 50/60Hz, 最大40VA

體積及重量

260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

配件

電源線X1,電源備用保險絲X1,使用說明書X1

■ 類比訊號測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量

■ 提高了抗干擾性,在產線上也能實現高反覆精度

■ 內含BIN功能可對應MLCC分料機的測定區分料

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