HIOKI 3506-10 高速電容測試器
產線最適合的產品，可對應1MHz測試，低容量，高精度，高速測試
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測量參數 |
C(電容),D(損耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
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測量範圍 |
C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～1.99999 Q:0.0 ～19999.9 |
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基本精度 |
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
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測量頻率 |
1kHz, 1MHz |
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測量信號電壓 |
500mV, 1V rms |
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輸出阻抗 |
1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上檔位), 20Ω(除上述以外的檔位) |
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顯示 |
LED(6位顯示) |
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測量時間 |
1.5ms：1MHz，2.0 ms：1kHz |
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功能 |
BIN分料測量,觸發同步輸出,記憶測量條件,測量值比較功能,平均值功能,Low-C拒絕功能,震動功能,電流檢測監視功能,輸出電壓值監視功能,控制用輸入輸出(EXT,I/O),RS-232C接頭,GP-IB接頭 |
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電源 |
AC 100/120/220/240V ±10%(可自調), 50/60Hz, 最大40VA |
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體積及重量 |
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
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配件 |
電源線X1,電源備用保險絲X1,使用說明書X1 |
■ 類比訊號測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
■ 提高了抗干擾性，在產線上也能實現高反覆精度
■ 內含BIN功能可對應MLCC分料機的測定區分料
