ST4030A 層間短路測試儀-唐和股份有限公司|HIOKI FLIR METTLER TOLEDO LeCroy DELTA OHM GHM

HIOKI ST4030A 層間短路測試儀

●能夠檢測到以往很難檢測到的不良現象
●高精度的檢測波形（高速採樣200MHz×高解析度12bit）
●單匝線圈檢測（回應波形的定量化）
●通過檢測隱藏在噪音中的“微弱的局部放電”，掌握馬達線圈之間的絕緣不良情況(微短路)→（選件）

型號 : HIOKI ST4030A

數量 :

通過回應波形的定量化，能在裝有轉子的成品狀態下進行檢查

●能夠檢測到以往很難檢測到的不良現象
●高精度的檢測波形（高速採樣200MHz×高解析度12bit）
●單匝線圈檢測（回應波形的定量化）
●通過檢測隱藏在噪音中的“微弱的局部放電”，掌握馬達線圈之間的絕緣不良情況(微短路)→（選件）

測試專案	●將施加在脈衝電壓上所獲得的回應波形定量化（LC·RC值），並判斷合格與否 ●AREA值，Fulutter，Laplacian等判斷波形 ●絕緣擊穿電壓測試功能
施加電壓	100V～4200V(設置解析度：10 V步) 最大施加能量: 約55 mJ
可測試的電感範圍	10 µH〜100 mH
採樣率	200 M/ 100 M/ 50 M/ 20 M/ 10 MHz, 解析度: 12 bit, 數據數: 1001〜8001點 (1000點步)
電壓檢測精度	[DC精度] ±5％ of setting, [AC帶寬] 100 kHz：±1 dB
判定方法	LC·RC值判定，波形判定，放電判定（安裝ST9000時）
測試條件組數	255 ( 測試條件設置、判定條件設置、標準波形)
測試時間	約60ms (3000V、1 脈衝、判定OFF 時的參考值)
顯示	顯示器：8.4 英寸SCGA 彩色TFT 液晶(800×600點)，觸摸面板
介面	標配：EXT.I/O, USB主機 (記憶體), USB設備 (通訊用), LAN 選件: RS-232C (Z3001), GP-IB (Z3000)
電源	AC100 V〜240 V, 50 Hz/60 Hz, 80 VA max.
體積及重量	215W × 200H × 348D mm, 6.7 kg
附件	電源線×1，使用說明書×1，應用軟體光碟×1，使用注意事項×1

如何使用Hioki脈衝繞組測試儀ST4030

Hioki ST4030脈衝繞組測試儀 - 介紹性視頻

高精度波形檢測

可以以高精度檢測響應波形的輕微變化，這使得難以區分良好和有缺陷線圈之間的差異。200MHz高速採樣以非凡的細節捕捉突然變化，12位高分辨率提供了波形之間的明顯差異。
即使只是幾圈也可以檢測短路，即使只是幾圈，也可以輕鬆識別線圈中的差異，這種能力在過去很難實現。
合規和不合規產品之間的LC和RC分配為做出明智決策提供了明確的標準。

即使只是幾圈也很難發現短路

現在，通過量化響應波形，即使只需幾圈，也可以輕鬆識別線圈中的差異，這種能力在過去很難實現。合規和不合規產品之間的LC和RC分配為做出明智決策提供了明確的標準。

轉子組裝後的測試

一旦轉子連接到電機的定子，轉子和定子之間的雜散電容將根據轉子所連接的位置而變化。雜散電容的這種變化意味著在脈衝測試期間獲得的響應波形變化，從而阻止使用傳統的波形比較方法。
雖然用於量化響應波形的LC和RC值也會因這些波形的變化而變化，但這些值的分佈因缺陷和無缺陷部分而異。
因此，只要已經創建了缺陷和無缺陷的部件判斷區域，就可以在安裝轉子之後執行脈衝測試。

如何使用Hioki脈衝繞組測試儀ST4030

ST4030檢測到線圈繞組之間存在層短路，電機電感中存在缺陷。通過在施加脈衝電壓之後使用從參考線圈獲取的主波形，並將其與在被測線圈的特定間隔上的測量波形進行比較，得到的面積差異可以幫助容易且準確地確定通過或失敗。此外，響應波形的量化是Hioki開發的一種新方法，通過使用通過/失敗分佈圖，您甚至可以檢測單匝故障。觀看此視頻，了解如何輕鬆進行設置並立即開始測試。